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LogicVision以分析測試數據提高IC良率
作者: 葛立偉

許多的測試數據均適用於最佳化IC的良率，但只有經過擷取與分析後的資訊才是有用的。LogicVision公司在最近舉行的國際測試大會上推出了一款Yield Insight產品，Yield Insight提供了LogicVision公司所謂的‘良率學習’(yield learning)過程，在該過程中測試故障數據可以用來查明潛在的良率問題。

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