登錄電子工程專輯網站，時刻處於電子設計的潮流尖端 .

首頁 |

登錄 | 現在註冊

[ 2008年7月9日 ]


用戶登錄	首頁 / 用戶登錄

先進向量網路分析儀協助應對射頻測量挑戰

準確地對高頻元件的線性和非線性功能進行特性化的需求，以及目前電子產品裝置中子系統整合程度不斷提高的發展趨勢，正改變著對RF和微波元件進行的測試方式。本文將介紹如何透過在向量網路分析儀內部用兩個訊號源以及增加測試系統的測試埠數量，使新一代向量網路分析儀更加適應現代應用的需求。

請登陸網站閱讀全文>>

電子信箱

密碼

登入密碼區分大小寫

記住我的密碼忘記密碼?

如果您已經是電子工程專輯旗下網站的註冊用戶，請使用您原有的註冊帳號登入，無須再次註冊

電子工程專輯旗下網站：

• 電子工程專輯英文版 • 電子工程專輯印度版 • 電子工程專輯簡體中文版 • 電子工程專輯韓文版
• 手機設計 • 汽車電子設計 • 媒體播放器 • 電源系統
• 工業控制 • 模擬混合信號 • 家用娛樂系統 • Embedded Design India
• Power Design India

最新信息

•
《2008年嵌入式市場研究報告》出爐 (2008-07-09)

•
IDC：台首季伺服器市場營收下滑 (2008-07-09)

•
明基等台灣廠商搶攻MID藍海商機 (2008-07-09)

•
Tektronix DisplayPort測試方案通過驗證 (2008-07-09)

•
WitsView：七月上旬IT面板價格驟降 (2008-07-09)

•
CSR與Skyhook攜手開發Wi-Fi定位技術 (2008-07-09)

•
NXP：從晶片製造端推動環保節能 (2008-07-09)

•
IIC-Taiwan國際大廠雲集展會內容豐富可期 (2008-07-09)

專題總匯

• 設計揭密

• 設計技巧

• 關鍵數據

• 線上專題

• 技術廣角

• 下載中心

• 活動訊息

• 展會報導

熱門關鍵字

• RFID

• 數位相框

• gphone

• LED

• WiMax

• MEMS

• 太陽能電池

返回頁首

eMedia Asia	EE Times - Asia \| EE Times - India \| \| \| IIC-Taiwan
環球資源	\| \| \| Electronic Components \| Computer Products \| Trade Show Center \| China Sourcing Fairs
TechInsights	EE Times \| ESM Online

RSS 新聞閱讀器