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Keithley新版KTEI 6.1軟體支援半導體特性分析
吉時利(Keithley)儀器公司發表6.1版互動式KTEI量測軟體，適用於4200-SCS半導體特性分析系統。新版KTEI 6.1軟體增強了吉時利4200-PIV的脈衝I-V能力，並顯著改進脈衝和DC測量的相關性。
請登陸網站閱讀全文>>
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