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[ 2008年7月9日 ]

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新版WinCal XE軟體可提供更精準的晶圓級RF量測

由於複雜、多埠RF架構之無線消費性電子裝置不斷增加，使得工程師必須於其晶圓級RF元件進行更高難度及更複雜的RF量測。為簡化製程，Cascade Microtech公司進一步擴充其WinCal校正軟體功能，以包含重要特性，並提供更快、更精準的晶圓級RF量測。

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