用戶登錄 首頁 / 用戶登錄

可擴展驗證克服現有驗證方法侷限性
作者:Brian Bailey

隨著晶片設計規模和設計複雜度日益增加(包括軟體和類比設計在總設計工作中所佔的比重日益增加)，功能驗證的重要性也日益凸顯。所謂設計規模增加，是指一顆SoC上所包含的電晶體數量急劇增多，這導致其中包含的閘數越來越多。如今，僅一顆SoC上就已經可以包含上千萬個閘，這無形中增大了電路出錯的幾率，也使驗證工作變得更加複雜。

請登陸網站閱讀全文>>
電子信箱：
密碼： 登入密碼區分大小寫
記住我的密碼 忘記密碼
 
如果您已經是電子工程專輯旗下網站的註冊用戶，請使用您原有的註冊帳號登入，無須再次註冊

電子工程專輯旗下網站：

最新信息

專題總匯
 •   設計揭密
 •   設計技巧
 •   關鍵數據
 •   線上專題
 •   技術廣角
 •   下載中心
 •   活動訊息
 •   展會報導

熱門關鍵字
 •   RFID
 •   數位相框
 •   gphone
 •   LED
 •   WiMax
 •   MEMS
 •   太陽能電池
返回頁首