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[ 2008年7月24日 ]

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在晶片設計開始階段進行電子遷移管理

長期可靠性的問題，比如電子遷移(EM)失效機制，歷來屬於晶圓廠的處理範疇。但隨著奈米設計中可靠性實現的愈加困難，對設計人員而言，不能再把問題扔給製造甩手不管了。設計領域也必須做出努力以獲得更具有強韌性的佈局。本文詳細描述了減少電子遷移的方法。

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