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[ 2008年7月25日 ]

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Cascade發表新一代功率元件晶圓測試系統

Cascade Microtech發表其新一代Tesla功率元件特徵化系統。該系統能為那些需要特徵化其功率元件的工程師和測試技術人員解決在晶圓上進行探測的挑戰，適用於具有高達60A電流和3000V電壓的功率半導體超高溫、低接觸電阻率測量。

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