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在奈米級設計中重新考慮DFT策略
作者:Chee-Chun Tay

目前半導體產業面臨的基本問題是，為了保持品質，他們不得不在生產過程中進行一些先進測試。130nm全速測試已經成為生產測試中的一項標準部份，隨著客戶逐漸轉移到90和65奈米製程，他們正在尋找其它類型的先進測試方法。具備所有先進測試模式和缺陷模式的完整解決方案，對於改進缺陷檢測來說相當必要。

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