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四埠晶片射頻測量方法取得突破性進展


複雜的四埠晶片測量必須探測系統的細微之處，並採用先進的VNA校準演算法。截至目前為止，先進的‘寬容限探測’四埠校準技術尚未研發出來。但目前已經可以使用一種新型的混合校準技術，來降低四埠元件測量的複雜度，並提供精密、可靠和可重複的四埠校準。

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