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迎接奈米級IC設計挑戰　DFM應成為普及化概念


有鑒於半導體產業正試圖解決可製造性設計(DFM)問題，參與月前在美國舉行之Semicon West展會上的一場小組座談的EDA產業專家表示，可以從可測試性設計(design-for-test，DFT)的技術發展歷程中取經。

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