電子工程專輯

解決WLR測試帶來的的新興挑戰
作者: Joey Tun

目前半導體測試又一次面臨新興的測試需求遠遠超過了現有系統的提供能力的局面，故需要改變測試系統架構來成功滿足新的測試需求。Keithley 2600系列代表新一代的智慧從管理單元(SMU)，其架構能夠提供高吞吐率，數據完整性，在半導體可靠性測試計畫所需的擴展和重新改變用途方面具有很大的靈活性。

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