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[ 2008年7月25日 ]

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利用晶片上時脈實現高性能全速測試

全速測試性能在大量新功能的幫助下有了很大的改進，包括在測試模式期間使用晶片上產生的功能時脈。目前許多設計都工作在非常高的頻率，並且包含有許多時脈。晶片上鎖相環是一種製作內部時脈的常見方法。本文提出製作高品質全速測試程式的一些建議。

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