在下一代嵌入式系統設計中採用平行測試測略
作者:James Truchard

嵌入式設計正面臨一種有趣的兩難抉擇：系統更加複雜，但時間日益緊迫，且對品質的要求更高。今天的嵌入式裝置擁有較過去更豐富的功能，由FPGA、微處理器、相機與運動感測器構成的系統，可控制從自主樂高機器人到CERN的大型強子碰撞器等裝置。這些設備往往受到安全監控並具備大量軟體，傳統的黑盒測試不太有效，這一度在嵌入式設計中形成了可怕的驗證與測試瓶頸。