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[ 2008年7月9日 ]


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在小型IC中運用ESD技術保證系統可靠性

ESD現象可採用多種模型進行模擬，許多人在談及晶片級模型與標準和系統級模型與標準時，往往會產生混淆。根據MIL-STD 883標準的Method 3015 (ANSI/ESD STM5.1)規定，晶片級ESD測試是讓最低2kV的放電電壓通過一個1,500Ω的電阻進入被測元件。在此阻值下，該模型產生的電流接近1.33A。

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