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[ 2008年7月25日 ]


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印度研發測試混合訊號IC數位功能區塊的新方法

來自印度Kharagpur印度科技學院(Indian Institute of Technology)的一個研究團隊，宣佈開發出了一種用以測試嵌入到混合訊號VLSI電路之中的數位功能區塊(block)的方法。該方法是以類比反向追蹤技術(analog backtrace)為基礎，這種技術採用類比區塊本身來測試數位區塊。

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