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[ 2008年7月25日 ]


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Agilent PNA-X網路分析儀新增雜訊指數量測選項

安捷倫科技(Agilent Technologies)宣佈其旗下的PNA-X網路分析儀推出源端修正式(source-corrected)雜訊指數量測選項，可為開發和測試最高頻率在26.5GHz以下的低雜訊電晶體、放大器與發射/接收(T/R)模組的研發及生產製造工程師，提供一套單次連接、多次量測解決方案。

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