| 印度研究人員研發可提升錯誤覆蓋率的電路設計技術 |
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印度理工學院(Indian Institute of Technology)和位於加爾各答(Kolkata)的一所學院，共同發表了一種佈線應用(layout-aware)、覆蓋率導向(coverage-driven)的Illinois掃描架構(Scan Architecture，ILS)技術，這種架構通常用於高密度電路來縮短測試時間和減少測試資料量。
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