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[ 2008年7月25日 ]


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Keithley半導體特性分析系統新增C-V測量功能

吉時利儀器(Keithley Instruments)為其4200-SCS半導體特性分析系統新增一套C-V測量功能4200-CVU。4200-CVU能以測量模組的形式插入4200-SCS的任意可用儀器插槽中，在10KHz到10MHz的頻率範圍內測量fF和nF級電容器。

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