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[ 2008年7月9日 ]

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Keithley C-V測試模組提升半導體特性分析效率

美商吉時利儀器(Keithley Instruments)公司推出一款電容-電壓(C-V)測試系統和軟體，整合了C-V/I-V/脈衝等測試功能於單一機台，可為半導體晶圓廠與實驗室帶來精確可靠的晶片測試效率與低成本的途徑。

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