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[ 2008年7月25日 ]


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安捷倫新款AOI平台提升後回流檢測效率

安捷倫科技(Agilent Technologies)在本月舉辦的德國Productronica貿易博覽會上推出了新款自動化光學檢測(AOI)平台Medalist sj5000。該產品以後回流(post-reflow)檢測為目標，採用易用且彈性的平台，可協助印刷電路板製造商因應表面黏著技術(SMT)瞬息萬變的需求。

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