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[ 2008年7月25日 ]

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低功耗製造測試設計──第一部份

為避免數位電路測試的功耗問題尤其是測試超大規模SoC時的功耗問題，其最佳途徑是在可測試性設計(DFT)過程中結合可感測功率的測試技術。本文將首先介紹動態功耗與測試之間的關係，以說明功率管理的迫切性；然後介紹兩種利用ATPG技術自動產生低功率製造性測試的DFT技術。

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