美國研發新平台　可簡化RFID標籤測試流程


目前在倉庫與貨架上被大量使用的射頻識別(RFID)標籤技術，其測試方法可說是一種負擔──因為目前的測試方法需要對每一個標籤獨立調諧(tune)；而若能將測試流程簡化，就可加速新設計原型的誕生。為此，美國喬治亞理工學院(Georgia Institute of Technology)的工程師設計了一種新的測試平台，能在模擬新標籤設計之晶片的同時，測試數百個RFID標籤。