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在單一平台上實現LCD驅動晶片與邏輯元件測試
作者:鄧榮惠

對LCD驅動器晶片開發商而言，一種可在單一平台上同時測試驅動晶片與邏輯元件的晶片測試系統，將可望為不斷攀升的LCD驅動晶片找到一個良好的高速測試解決方案。測試解決方案供應商泰瑞達(Teradyne)稍早前針對高解析度LCD驅動器晶片推出了專用的D750Ex LCD驅動晶片測試系統，每台檢測系統的速度可較現有設備提升50%以上。

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