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Mentor：創新技術推升半導體業對DFT的需求
作者:米亞

正當IC設計尺寸增加以及製程體積縮小造成新缺陷產生的同時，測試樣本尺寸也逐漸加大。因此對於高品質製成測試，測試樣本壓縮也成為一項極其重要的需求，而新的技術也將必須滿足市場對於掃描測試壓縮所需。

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