Global Sources
電子工程專輯
 
電子工程專輯 > EDA/IP
 
 
EDA/IP  

在老化的同時進行功能測試

上網時間: 2001年01月28日  打印版  Bookmark and Share 訂閱   字型大小:  

關鍵字:功能測試  老化  半導體器件  邏輯器件老化測試  PCB設計 

[摘要提示] 為了達到滿意的合格率,几乎所有產品在出廠前都要先藉由老化。製造商如何才能夠在不縮減老化時間的條件下提高其效率?本文介紹在老化過程中進行功能測試的新方案,以降低和縮短老化過程所帶來的成本和時間問題。James Rhodes總經理Unigen Operations,Unisys在半導體業界,器件的老化問題一直存在各種爭論。像其他產品一樣,半導體隨時可能因為各種原因......
請登陸或註冊網站閱讀全文>>
 


投票數:   加入我的最愛
我來評論 - 在老化的同時進行功能測試
評論:  
*  您還能輸入[0]個字
*驗證碼:
 
論壇熱門主題 熱門下載
 •   將邁入40歲的你...存款多少了  •  深入電容觸控技術就從這個問題開始
 •  我有一個數位電源的專利...  •  磷酸鋰鐵電池一問
 •   關於設備商公司的工程師(廠商)薪資前景  •  計算諧振轉換器的同步整流MOSFET功耗損失
 •   Touch sensor & MEMS controller  •  針對智慧電表PLC通訊應用的線路驅動器
 •   下週 深圳 llC 2012 關於PCB免費工具的研討會  •  邏輯閘的應用


 
返回頁首