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嵌入式記憶體的可測試設計技術

上網時間: 2003年11月17日  打印版  Bookmark and Share 訂閱   字型大小:  

關鍵字:embedded memory  DFT  MBIST  EDA  design 

[摘要提示] 記憶體內建式自我測試(MBIST)技術可以自動實現記憶體單元或陣列的RTL級內建自測試電路,MBIST的EDA工具支援多種測試演算法的自動實現,可針對一個或多個內嵌記憶體自動製作BIST邏輯,並完成BIST邏輯與記憶體的連接,此外MBIST結構中還可包括故障自動診斷功能,方便了故障定位和開發針對性測試向量。本文將介紹用於嵌入式記憶體設計MBIST技術,並對其電......
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