美國研發新平台　可簡化RFID標籤測試流程

目前在倉庫與貨架上被大量使用的射頻識別(RFID)標籤技術，其測試方法可說是一種負擔──因為目前的測試方法需要對每一個標籤獨立調諧(tune)；而若能將測試流程簡化，就可加速新設計原型的誕生。為此，美國喬治亞理工學院(Georgia Institute of Technology)的工程師設計了一種新的測試平台，能在模擬新標籤設計之晶片的同時，測試數百個RFID標籤。

請登陸或註冊網站閱讀全文>>

還未註冊? 快速註冊成為電子工程專輯用戶

電子信箱：
密碼：
確認密碼：
公司名：
工作性質：
產品和服務：
國家/地區：	臺灣臺灣以外的其他地區

點擊此處填寫完整註冊信息，即可免費訂閱電子工程專輯信息速遞，並在線申請訂閱雜誌。

已經註冊? 登錄閱覽全部精彩內容

電子信箱：
密碼：
	登入密碼區分大小寫
	記住我的密碼忘記密碼

	如果您已經是電子工程專輯旗下網站的註冊用戶，請使用您原有的註冊帳號登入，無須再次註冊
電子工程專輯旗下網站：電子工程專輯印度版電子工程專輯英文版電子工程專輯韓文版電子工程專輯簡體中文版模擬混合信號電源系統 Embedded Design India Power Design India 家用娛樂系統手持電子設備工業控制汽車電子設計

如果您已經是電子工程專輯旗下網站的註冊用戶，請使用您原有的註冊帳號登入，無須再次註冊

電子工程專輯旗下網站：

	最新信息
Synopsys宣佈收購虛擬系統原型方案供應商Vast (2010-02-09) Ceitec執行長：三年內巴西將有“台積電級”晶圓廠 (2010-02-09) Broadcom以1.23億美元收購EPON晶片商Teknovus (2010-02-09) GlobalFoundries想在三年內搶下30%晶圓代工市場 (2010-02-09) 09年全球智慧型手機出貨成長15.1%、達1.7億支 (2010-02-09) iSuppli：2010年全球光電系統裝機容量可成長68% (2010-02-09) 雷凌：今年挑戰全球市佔率15% (2010-02-09) NRE接單增加　創意展開28nm技術研發 (2010-02-09)

EE家族

快來建立屬於你的EE家族，在茫茫人海中尋找志同道合的夥伴！

功能介紹
加入家族
進入EE家族
成立EE家族

專題總匯

• 設計揭密

• 設計技巧

• 關鍵數據

• 線上專題

• 技術廣角

• 下載中心

• 活動訊息

• 展會報導

熱門關鍵字

• RFID

• 數位相框

• gphone

• LED

• WiMax

• MEMS

• 太陽能電池

eMedia Asia	EE Times - Asia\|EE Times - India\|\|
環球資源	\|\|\|Electronic Components\|Computer Products\|Trade Show Center
TechInsights	EE Times\|ESM Online\|EE Times JAPAN