Tektronix宣佈為其DSA8300取樣示波器推出全新的光學模組。此模組具有業界最高的遮蔽測試靈敏度和最低的雜訊,並配備了全新功能,可提升生產能力並改善當前100G設計投入生產的產量。

Tektronix同時推出其400G測試解決方案的增強功能,包括IEEE乙太網路標準驅動的發射器和分散眼閉鎖 (TDECQ) PAM4,以及針對光學測試的相關支援量測。

在2017年OFC光學網路和通訊研討會和展覽上,太克科技展示了全新的模組和功能,以及全套Tektronix 100G/400G光學特性分析和驗證解決方案。

當安裝在DSA8300取樣示波器中時,全新的80C17和80C18光學模組可提供 -14dBm的遮蔽測試靈敏度,超過28GBd PAM4標準的要求,同時提供業界最佳的3.9μW雜訊效能,並具有廣泛的波長支援。雙通道80C18可讓光學製造測試工程師能加倍提升傳輸量和容量。若裝置故障,Tektronix還能提供分析工具來分解雜訊和抖動的訊號內容,以協助工程師瞭解潛在的問題。

80C17和80C18光學模組和400G測試軟體增強功能將於2017年4月底開始提供。