亞德諾半導體(Analog Devices, Inc.;ADI)宣佈推出兩款專為工業狀態監測應用設計的高頻、低雜訊MEMS加速度計ADXL1001和ADXL1002。利用這些MEMS加速度計可實現高解析度振動測量,為早期軸承故障和機器故障的其他常見原因提供必要的資訊。

過去,可用高頻MEMS加速度計雜訊性能不及傳統技術,阻礙了其應用,使得MEMS的可靠性、高品質和可重複性得不到發揮。如今,ADXL1001和ADXL1002在高頻範圍的雜訊性能與現有PZT壓電傳感器技術不相上下,使得ADI MEMS加速度計成為新一代狀態監測產品極具吸引力的選擇。ADXL1001和ADXL1002是ADI在高性能精密感測技術的最新典範,可為智慧工廠在物聯網應用提供高品質、高準確的數據,並實現從網路邊緣開展智慧感測。

ADXL1001和ADXL1002 MEMS加速度計在寬頻寬和大量程的基礎上實現了非常低的雜訊密度。這些加速度計有兩個型號,滿量程範圍分別為±100g (ADXL1001)和±50g (ADXL1002)。ADXL1002的典型雜訊密度為25μg/√Hz,靈敏度為40mV/g;ADXL1001的典型雜訊密度為30μg/√Hz,靈敏度為20mV/g。這兩款加速度計均採用3.0V至5.25V單電源供電,並提供完整自檢和超範圍指示等實用特性。

ADXL1001和ADXL1002的額定工作溫度範圍為-40℃至+125℃。