國家儀器(NI)推出NI PXIe-4135電源量測單元(SMU)提供10fA的量測靈敏度與高達200V的電壓輸出。透過NI PXI SMU的靈活彈性、高通道數密度、絕佳的測試輸出率，工程師可使用NI PXIe-4135 SMU量測低電流訊號，並執行晶圓參數測試、材料研究、低電流感測器與IC的特性測試等多種應用。

工程師可透過模組化NI PXI SMU打造體積精巧、平行的多通道數系統，並享有多達68個SMU通道的單一PXI機箱，能夠針對數百個通道執行晶圓穩定性測試與平行測試。此外，使用者可善用高速通訊匯流排、精確的硬體序列與數位控制迴路技術，藉此提高測試輸出率並客制微調任何待測裝置的SMU響應。使用者也可以運用軟體控制SMU響應，不僅可縮短SMU趨穩作業漫長的等待時間，還能藉由軟體的彈性減少過衝與震盪，即使是高電容負載也一樣。

NI PXI SMU使用互動式軟體人機介面執行基本量測並為自動化應用除錯，其操作的簡易程度是箱型SMU無法達成的。此驅動程式提供輔助檔案、文件與立即可用的範例程式，藉以協助測試程式碼的開發，另外還提供程式設計介面，可搭配C、Microsoft .NET與LabVIEW系統設計軟體等多種開發環境。工程師也可使用NI PXI SMU搭配NI TestStand測試管理軟體，藉此簡化測試系統在實驗室與生產線上的建置與佈署。

活動簡介

從無線連接、更快的處理和運算、網路安全機制、更複雜的虛擬實境(VR)到人工智慧(AI)等技術，都將在未來的每一個嵌入式系統中發揮更關鍵功能。「嵌入式系統設計研討會」將全面涵蓋在電子產業最受熱議的「智慧」、「互連」、「安全」與「運算」等系統之相關硬體和軟體設計。

會中將邀請來自嵌入式設計相關領域的研究人員、代表廠商以及專家，透過專題演講、產品展示與互動交流，從元件、模組到系統，從概念設計到開發工具，深入介紹嵌入式系統設計領域的最新趨勢、創新和關注重點，並深入分享關於嵌入式系統設計的經驗、成果以及遇到的實際挑戰及其解決方案。

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