寬頻5G波形產生與分析技術瞄準5G測試

2017-07-28
作者 NI

NI Pre-5G波形產生與量測技術結合運用1GHz頻寬的PXIe-5840第二代VST以及用於調變及解調的Pre-5G軟體…

NI於夏威夷檀香山舉行的2017年國際微波會議(International Microwave Symposium,IMS)中,正式展示Pre-5G波形產生與量測技術。這場技術展示主要強調Verizon 5G技術論壇(5GTF)與3GPP提議之新無線電(NR)實體層,在訊號產生與波形分析的代表性地位。

此次技術展示結合運用了1GHz頻寬的PXIe-5840第二代向量訊號收發器(VST),以及用於調變及解調的Pre-5G軟體。重要的波形調變功能包括同時支援離散傅立葉轉換展頻正交頻分多工(DFT-S-OFDM)與正交頻分多工存取(OFDMA),以及彈性的子載波間距與元件載波組態;後者可支援3GPP 5G NR與Verizon 5GTF規格,且總支援頻寬高達1GHz。

此次展示可支援高達256-QAM的調變類型,以及包括功率、鄰近通道功率與誤差向量幅度的量測結果。此項技術展示的傳統應用範圍包括測試RFIC,例如RF功率放大器、前端模組與收發器。

「在測試與量測作業上,由於NI通常採取軟體為主的方式,我們得以隨著軟體開發一併革新PXI測試系統」,NI無線設計與測試部門副總裁Charles Schroeder表示。「透過這類做法,工程師日後便能採用目前用來測試LTE-A與LTE-A Pro產品的相同VST架構測試系統,來測試5G產品。」

NI全新的5G測試技術使其RF與無線測試產品組合更完整,而新推出的軟體則讓目前用來測試802.11a/b/g/j/n/p/ac/ax、藍牙、GSM、UMTS、LTE/LTE-A、FM/RDS、GNSS等嶄新技術的解決方案更加完美。NI RF與智慧化無線測試系統採用先進VST技術,有助於工程師降低測試成本。

這些測試系統受益於DC與毫米波等600多種PXI產品,並整合時序與觸發功能,可透過PCI Express Gen 3匯流排介面與亞毫微秒等級的同步化功能,提供高速資料傳輸。使用者可以善用LabVIEW的產能與TestStand軟體環境、合作夥伴構成的活躍生態系統、附加IP與應用工程師,大幅降低測試成本、縮短產品上市時間,並確保測試儀器因應未來挑戰。

活動簡介

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