Tektronix推出S530系列參數測試系統

作者 : Tektronix

奠基於新興寬能隙(WBG)技術的新型半導體產品(如GaN和SiC)可望達成更快的切換速度、更寬的溫度範圍、更好的電源效率以及其他優勢。為了滿足這些產品的測試需求,以KTE 7為基礎的S530平台提供了實驗室等級的量測效能,以及最短的設定和測試時間。

測試與量測解決方案供應商Tektronix發佈了新款Keithley S530系列參數測試系統,以及KTE 7軟體和其他增強功能。S530平台使半導體製造廠能為高速成長的新技術增添參數測試能力,同時有效地降低CAPEX投資,並顯著地提升每小時晶圓產量。總體擁有成本隨之降低後,將有助於製造商在競爭激烈的新市場中因應龐大的價格壓力。

奠基於新興寬能隙(WBG)技術的新型半導體產品(如GaN和SiC)可望達成更快的切換速度、更寬的溫度範圍、更好的電源效率以及其他優勢。為了滿足這些產品的測試需求,以KTE 7為基礎的S530平台提供了實驗室等級的量測效能,以及最短的設定和測試時間。隨著新應用的出現和需求的變化,高達1100V的高速、全彈性的解決方案亦應運而生。這使晶片製造商能夠以最少的投資,在單一系統上利用最短的測試/設定時間,經濟高效地將其擴展至高速成長的電源和WBG裝置(包括汽車市場)中。

S530系列的創新功能可在廣泛的產品組合中顯著提升測試儀的利用率,並輕鬆遷移現有的測試軟體、探棒卡和其他產品,同時提供完整的資料關聯性、有效提升測試速度。S530-HV機型能夠在任何針腳上測試高達1100V的電壓,與電源和WBG應用中的其他競爭系統相較,可將輸送量提高50%以上。

晶片製造商可以使用單一系統測試多種產品組合,包括根據IATF-16949品質管理標準的汽車產品。客戶可在內部進行校驗以盡可能地降低停機時間,也可以透過Tektronix的服務機構完成校驗,享有全球高品質個人支援服務。以KTE 7為基礎的平台為半導體製造商提供了從傳統S600和S400系統的最簡單且最具成本效益的遷移途徑,不僅可保持完整的資料關聯性,且輸送量較S600更快25%。

重大改進和首創功能:

  • S530-HV的選配測試頭讓操作員在從低壓(<200V)移動至高壓(>200V)晶圓級測試時,不再需要耗費時間來變更儀器、探棒卡和電纜測試設定。測試頭使探棒卡與多家供應商的多種機型相容,可更快速地更換探棒卡並根據ISO-17025進行針腳校驗,同時保持向後相容性。這可有效地降低遷移成本並保護客戶投資,同時支援如汽車標準IATF-16949等的新要求。
  • S530-HV能夠在任何針腳上測試高達1100V的電壓,與電源和WBG應用中的競爭系統相較,可將輸送量提高50%以上。操作員可依任何順序將任何測試資源連接至任何測試針腳,以快速、輕鬆地支援生產要求,而無需重新配置或重新設定訊號路徑。
  • KTE軟體相容性顯著地簡化並加速了從舊系統(例如S600)的遷移路徑,提供了完整的關聯性,且輸送量亦提升25%。
  • 內建的暫態過電壓/過電流保護可防止意外損壞探棒卡、針頭和儀器─這在高速WBG應用中尤為重要。
  • 在系統校準期間,新型5880-SRU系統參考單元會自動切換所有直流和交流參考標準,無需手動連接、中斷和重新連接。這種完全自動化的過程有效地減少了系統停機時間,並減少了執行校驗時的支援成本,進而降低產品的擁有成本(COO)。

 

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