許多年前，當我還是個年輕的設計人員時，曾經在一家製造射頻(RF)光收發器的半導體公司工作。我們完成了收發器的設計，同時牢記了規格和要求，然後著手完​​成內測板的建構並進行設計驗證。接下來就是進行試製和特性化的時候了。

一旦組裝了所有的零件後，製造團隊就會指派一支小規模的試驗小組，根據製程工程師的規格要求來製作這款設備。利用現有的製造設置和技術以及現有的經驗，該項任務在一週內就完成了。然後就是交由我為其進行特性化的時候了，這項任務包括對這些零件的驗證，以確保所擁有的樣本組能在所有條件下，因應數據手冊規格內的所有電氣和光學參數進行工作。

對於收發器樣本來說，這是一個極其費力的過程，需要花費很多天的時間。為了節省時間和資源，這通常需要投入多位操作人員和測試平台並進行多次輪班。為了保持可重複性，多個測試設備受到嚴格的過程控制。因此，在選擇測試參數後，完成樣本試製，對測試設備進行正確量化，並加以培訓操作人員，接著，我們就可以開始進行表徵了。

數據採集

經過幾天的測試，由於每個零件需要大約2.5個小時來測試所有參數，而我們必須做大約50個零件，所以我開始整理數據(因為有太多的數據)。顯然地，在數據整理過程的初期，某些參數並未以預期的方式移動。有些參數本來應該是指數的，但卻隨著溫度變化表現出更多線性響應。這導致某些零件在高溫下失效。

因此，我著手比較並整理已測設備的較大數據集，同時嘗試找出其他參數中的模式，這些模式應該能夠反映這一趨勢並解釋我所看到的現象。因此，為了了解這種失敗的模式，我必須重新測試所有未能證實預期結果的零件。由於製造團隊老是催促著要將測試儀器還給他們，使其得以繼續進行製造，我便著手製定了一項可行的計劃。

在重新測試時，事實證明所有都顯示了正確的響應，而不是失敗的響應。這有點令人不解。為什麼當我沒觀察它們時會失敗，而當我觀察它們時就通過呢？這就像是那句老話——「心急水不沸」(A watched pot never boils.)，儘管測試很繁瑣，而且涉及的時間很長，但我還是必須進行完整的測試。

到了休息時間，操作人員通常讓測試儀持續處於運作狀態，因為它得花很長時間才能停下來，這樣可能反而浪費時間。此外，使其保持運轉也能提高利用率。但是在此出現了一個陷阱。其測試程式被設計為連續運轉，而且在完成一台設備後，操作人員將會抬起恆溫罩，解除對待測設備的鎖定，然後重新裝載要測試的新設備並開始測試。

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活動簡介

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會中將邀請來自嵌入式設計相關領域的研究人員、代表廠商以及專家，透過專題演講、產品展示與互動交流，從元件、模組到系統，從概念設計到開發工具，深入介紹嵌入式系統設計領域的最新趨勢、創新和關注重點，並深入分享關於嵌入式系統設計的經驗、成果以及遇到的實際挑戰及其解決方案。

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