半導體參數測試系統納入KTE V7.1軟體

作者 : Tektronix

Tektronix發佈適用於Keithley S530系列參數測試系統的KTE V7.1軟體,在全球市場最需要的時機協助加速半導體晶片的製造流程。

KTE V7.1版本首次提供的新選項包括全新的平行測試功能和獨特的高壓電容測試選項,適用於新興電源和寬能隙應用。與KTE V5.8相較,KTE V7.1將測試時間縮短了10%以上,這意味著工程師可以減少停機時間並更快速地製造晶片。

5G的出現和物聯網(IoT)的成長推動了全球對半導體的需求。如欲解決全球晶片短缺的現象,不僅需要提升現有的製造量,還需要能更快速地測試正在開發的新晶片。Tektronix所發佈的新型測試系統可以顯著減少測試時間,有助於加快製造速度,進而加快向市場交付新晶片。

KTE V7.1是以KTE 7.0作為基礎,對S530系統進行功能和輸送量的改進版本。新的測試頭設計可靈活地使用不同的探棒卡。升級後的軟體和硬體可提供單通測試和高輸送量。在服務方面,最近發佈的系統參考單元(SRU)將校驗時間縮短到低於8小時,即意味著這些程序可以在一個常規工作班次中完成。

 

 

 

 

加入我們官方帳號LINE@,最新消息一手掌握!

發表評論