SEMICON:半導體量產測試邁向智慧化

作者 : Susan Hong,EE Times Taiwan

隨著IC和系統複雜度與日俱增,與半導體相關的測試與驗證技術正持續突破極限,​並考驗測試業者如何以​智慧化、自動化​​​且更全面的先進測試解決​方案​取代​傳統​自動化​測試​設備(ATE)的能力...

因應人工智慧(AI)、物聯網(IoT)與車用電子等應用快速發展,IC和系統複雜度與日俱增,為了滿足嚴苛的射頻(RF)、​混合​訊號IC與系統設計時程並加速產品上市,與半導體相關的測試與驗證技術正持續突破極限,​並考驗測試業者如何以​智慧化、自動化​​​且更全面的先進測試解決​方案​取代​傳統​自動化​測試​設備(ATE)的能力。

Advantest展示全方位IC測試方案

愛德萬測試(Advantest)以「超越技術視野」(Beyond Technology Horizon)的觀點參與今年的國際半導體展(SEMICON Taiwan 2022),發表先進測試技術觀點,並展示其全系列 IC 測試解決方案。

在SEMICON的「先進測試論壇」(Advanced Testing Forum),Advantest Europe產品經理Michael Braun以「使用高速 I/O介面為異質整合的生產測試提高吞吐量和缺陷覆蓋率」(Boosting Throughput and Defect Coverage by Using High-speed I/O Interfaces for Heterogeneous Integration in Production Test)為題,針對2.5D/3D小晶片(chiplet)和異質整合(HI)分享最新技術及其相應測試。

因應當今設計的大量閘數以及先進製程節點的複雜故障模型導致生產測試資料量激增,每台裝置的掃描模式執行時間僅為幾分鐘。此外,基於核心的結構測試所提供的整體缺陷覆蓋率已不足以確保安全關鍵或高可用性應用中先進SoC的要求。為此,必須顯著增加測試吞吐量和覆蓋範圍,以及使用高速介面以實現ATE和SLT之間測試的可移植性。

Advantest在論壇中強調標準高速串列介面在先進SoC 和大型高性能運算(HPC)裝置生產測試的重要性,以及在不同平台上支援多個測試插入的異質測試流程也日益顯著。除了ATE上類似系統的功能測試用法和高吞吐量SCAN應用,Advantest並分享客戶在生產測試中部署的案例。

此外,Advantest並於展會中設置專屬貴賓室,展示其全系列IC測試解決方案,邀請客戶與參訪者面對面互動,深入瞭解Advantest的T2000/T6391測試系統、T5835記憶體測試、ATS5038系統級測試平台、Link Scale數位通道卡、V93000 EXA Scale SoC測試系統及其PS5000數位板卡等針對SoC、記憶體、LCD驅動器等元件測試、智慧製造和即時測試數據分析等最新測試產品與解決方案。

Advantest V93000 EXA Scale SoC測試系統。

Advantest ACS產業鏈平台(ACS Solution Store)並於SEMICON期間上線,半導體測試提供即時數據基礎設施與資料分析解決方案。據Advantest介紹,透過此安全、可信任的資料平台,客戶可以輕鬆瀏覽、購買並安全地部署經測試認證的ACS解決方案,取得ACS即時數據基礎設施解決方案與軟體應用。此外,該創新開發的介面還有助於為客戶提供量身打造的解決方案,以提高良率、品質、裝置效能(OEE),從而協助其縮短產品上市時程。

NI打造​智慧化半導體​產​測​方案

針對量產製造所需的半導體測試,NI展示一系列智慧化量測裝置與解決方案。最新一代半導體​測試​系統(STS)除了整合PXI平台、​模組化​儀器與​系統​設計​軟體,並進一步串聯大數據(big data)分析,​建立​可​進行RF與​混合​訊號​生產​測試​的​測試​系統,從而加速半導體產品生命週期,協助客戶縮短產品上市時程。

據NI亞太區半導體市場開發經理潘建安介紹,最新一代STS ATE支援從DC sub-6 GHz到最新毫米波(mmWave)的驗證與特性測量,適用於RF、​混合​​訊號、​MEMS等半導體​自動化測試,​支援​機械手​臂、​ 晶圓​探​針​器​、可高度​轉移​的​測試​程式​及​轉接​板等,並提供​軟體​工具​集,以便​快速​且​有效​率地​開發、​除錯與​部署​測試​程式,不僅實現​最佳​化​產能​還有助於​降低​成本。​

NI最新半導體​測試​系統(STS)整合PXI平台、​模組化​儀器與​系統​設計​軟體,並進一步串聯大數據分析。

針對​半導體​應用​的​電容-​電壓/​電流-​電壓(CV/​IV)與參數測試​,NI展示​電​感、​電容​和​電阻 (LCR)測量最新利器——NI PXIe-4190,採用小體積的模組化設計,可實現多通道平行測試。此外,集LCR錶與電源​量​測​單元(SMU)的fF電容-fA電流級測量於一體,有助於免除切換器帶來的測試不確定性與時間延遲。

支援最高​達 2MHz、​40V的PXIe-4190還包括​整合​被動​裝置(IPD)、​MEM、​多層​陶瓷​電​容器(MLCC) 和​參數​測試。此外,​NI-​DCPower儀器​驅動​程式​支援PXIe-4190,​其中​包括​用於LabVIEW、​C、​C# .NET、​Python和​其他​程式設計​語言​的API。

針對​CV/​IV與參數測試的LCR錶:NI PXIe-4190。

因應5G與Wi-​Fi 6/6E/7等標準推陳出新而必須​處理​更多頻段與​載​波​聚合(CA)​​等​複雜​​調​變​機制的RF前端​(RFFE)的工程師,NI推出RFFE測試解決​方案,能夠​​驗證​寬頻5G、​LTE與WLAN RF功率放大器(PA)​的​效能。透過​整合​對SMU、​AWG、​RF與Focus Microwaves調諧器​等​多種​儀器​的​控制​功能,​有助於加速​讓RF PA等待​測​物(DUT)上線。

NI無線射頻前端(RFFE)測試方案。

加入我們官方帳號LINE@,最新消息一手掌握!

發表評論