解決高溫焊接可靠度的救星? 深入了解「無鉛低溫錫膏」
歐盟2003年公佈、2006年執行的 「危害性物質限制指令」(RoHS),帶起電子材料無鉛化的變革浪潮,也使業者必須投入無鉛銲料的研發及量產…

自從邁入電子世代,人們就積極將電子產品微縮化,製造商也致力將半導體晶片、電子元件縮小,並將它們以焊接或插件等方式固定在載板及電路板上。不過到了90年代,全球環保意識抬頭,讓具有絕佳電子及機械材料特性的傳統含鉛銲料飽受衝擊,歐盟更率先於2003年公佈、2006年執行「危害性物質限制指令」(RoHS),銷往歐盟的電子產品禁用含鉛、汞及鎘等重金屬的材料,這項規定帶起電子材料無鉛化的變革浪潮,也使業者必須投入無鉛銲料的研發及量產。
無鉛焊錫的熔點較高,若將其導入製程,就必須克服調高回流焊接溫度(Reflow Temperature)所衍生的問題,焊接的元件必須承受更高的溫度,同時仍須確保產品壽命及可靠度。在這些無鉛銲料的選擇中,錫銀銅(SAC)合金的焊點可靠度表現較佳,雖然製程從錫鉛(SnPb)合金轉換到錫銀銅合金時,表面貼焊製程(Surface Mount Technology,SMT)產線的回焊流峰值溫度(Reflow Peak Temperature),從原本的220℃上升到了250℃左右,但為了符合產品可靠度的要求,錫銀銅合金也就一直沿用至今。
近年來,由於高性能運算(High Performance Computing,HPC)和人工智慧(Artificial Intelligence,AI)演算的普及,在如此快速又複雜運算的應用上,傳統板級(Board-Level)的構裝方式,已無法應付高效能與高頻寬、低功耗、多晶片整合、空間集積化的要求,業界需要先進封裝製程來克服這些問題,例如系統級封裝(System in Package,SiP)和2.5D Si中介層封裝(Chip-on-Wafer-on-Substrate,CoWoS),不過這種封裝製程搭配錫銀銅高熔點無鉛製程時,卻遇到了回流焊溫度造成基板翹曲的難題,而可用於低溫製程且不含鉛的低溫焊錫(Low Temperature Soldering,LTS),即成為了眾所矚目的焦點。
低溫焊錫的發展已有一段時日,起初源於各國積極落實環保碳中和政策,因為推動電子產品在生產製程中必須減少碳排放,其中一項措施就是採用無鉛低溫錫膏製程。而現今為了產品的良率及可靠度,更加速了這項材料的製程驗證及導入時程。一般通用的無鉛錫膏SAC305 (96.6% Sn、3% Ag、0.5% Cu)熔點為217℃,而無鉛低溫錫膏通常指含有「鉍」(Bi)金屬的錫膏,在SnBi合金中Sn64Bi35Ag1的熔點只有178℃、Sn42Bi58的熔點更低只到138℃,換句話說,含「鉍」錫膏的熔點比SAC305無鉛錫膏低了39℃~79℃。
無鉛低溫錫膏能符合低溫製程的需求,不過是否存在其他優缺點呢?
優點一、節省成本
因為無鉛低溫錫膏熔點較低,因此可調低SMT的回流焊接溫度,一併降低了電路板上使用耐高溫的焊接元件及材料的成本,也因回焊爐溫無須太高就能焊接,進而降低了設備的用電量,同時達到節省電源成本、節能減碳的目的。此外,有些塑膠材質的插件式元件無法耐高溫,因此會將SMT製程拆成兩道進行,而採用低溫無鉛錫膏因為降低了SMT製程溫度,就可以將製程簡化成一道,節省製程時間及能源成本。
優點二、降低翹曲的發生
先進封裝製程需將許多不同類型的元件封在同一片基板上,例如SiP或CoWoS,而在SMT製程時,就會發生基板因回流焊接高溫而翹曲變形、讓元件與基板的接點產生額外的拉扯應力,導致焊接良率不佳,而增加生產成本。使用無鉛低溫錫膏能調低SMT製程回流焊接溫度、降低基板翹曲的程度,也改善了可靠度的問題。
無鉛低溫錫膏的缺點
焊點強度較差是無鉛低溫錫膏最需要改善的地方,不論是溫度循環試驗(Temperature Cycling Test)、或機械衝擊試驗(Mechanical Shock Test)等可靠度驗證項目,都不如主流使用的錫銀銅合金錫膏。因此,如何強化焊點可靠度,就成了低溫錫膏的重要課題。錫膏材料業者致力進行研究,試圖在SnBi合金添加其他元素來達成目的,例如加入「銀」(Ag)能夠加強焊點強度、並提升材料的抗疲勞性,有助於通過溫度循環試驗。部分專家認為是因材料中Ag3Sn合金的幫助,但由於銀的化合物偏脆性,若含銀量太多,反而會導致無法通過機械衝擊試驗,因此目前主流使用的無鉛低溫錫膏,含銀量至多在3%以下。
導入無鉛低溫錫膏材料時,在SMT製程的溫度設定也必需互相搭配,來得到最佳的焊接效果、並通過產品可靠度驗證。普遍的做法是在不影響焊接效果的前提下,盡量降低回焊流峰值溫度,目的是減少電路板及載板在製程中的熱變形量,並藉由增加回焊流峰值後的冷卻速率,來加速固化低溫焊錫的時間。不過,若過度提升回焊流峰值後的冷卻速率,卻有可能增加焊錫破裂的機會。因此最好先藉由可靠度驗證,來評估無鉛低溫錫膏的焊錫特性,選擇出合適的溫度冷卻速率。
閎康科技提供客戶在可靠度驗證服務的Total Solution,從實驗規劃、PCB製作、SMT上板、進行可靠度試驗,並進行完整的失效分析的服務(圖1),多年來協助世界級智慧手持、伺服器業者進行焊點可靠度驗證。閎康科技擁有完整的分析檢測能力,也能幫助客戶在進行可靠度驗證後,快速找到焊點開裂的失效真因(圖2)。
圖1:閎康科技可靠度驗證服務的Total Solution。
圖2:(上)非破壞檢測焊點開裂區域(3D X-ray);(下)焊點開裂區域的剖面分析(SEM)。
焊點晶格分析
無鉛低溫錫膏的材料成分與現今主流的錫銀銅合金錫膏差異很大,因此材料在上板後的焊錫特性也不同,特別是焊點的晶格分佈對於品質、可靠度有極顯著的影響。
對此,閎康科技引進EBSD分析設備,利用EBSD進行焊點的晶格分析,從材料晶格的微觀結構對焊點的結晶型態及比例進行確認(圖3),也能夠針對焊點開裂的區域進行微觀分析,尋找出失效真因(圖4)。藉由閎康科技快速、完整的驗證及分析檢測能力,幫助客戶更有效率地選擇最適合的無鉛低溫錫膏、及最佳化的回焊流製程條件,並提升產品的板級可靠度(Board-Level Reliability),以加速客戶的產品上市速度。
圖3:焊點晶粒組織及結晶分析(EBSD)。
圖4:焊點開裂區域的結晶分析(EBSD)。
閎康科技秉持著成為客戶最佳研發夥伴的目標,協助客戶加速先進製程與產品的量產上市時程,在快速發展的電子產業取得商業先機。
本文同步刊登於《電子工程專輯》雜誌2023年3月號
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