2016-06-04 - Abhishek Mahajan

提高非隨機圖形設計的故障覆蓋率

由於邏輯內建自測試(LBIST)向量的隨機本質,使得採用LBIST的設計具有非隨機模式,從而導致較低的故障覆蓋範圍。為了解決這一問題,本文在測試點插入非隨機故障分析(RRFA)法。藉由故障模擬,完成LBIST設計的故障檢測能力運算,有助於估計「測試品質」。

- Rohde & Schwarz

R&S將與Intel舉辦物聯網測試技術論壇

羅德史瓦茲與技術夥伴Intel 將於6月13日在慕尼黑舉辦物聯網測試技術論壇(IoT Test Day)。

2016-05-31 - Allion

DP 1.4 Rx抖動相容性測試服務加速產品上市

因應VESA協會制訂DisplayPort 1.4的相容性測試規格(CTS)以及市場需求,百佳泰(Allion)開發出HBR3抖動相容性(Jitter Tolerance)測試服務服務,針對接收器(Rx)的實體層端進行測試,協助客戶在產品化前提早發現問題。

2016-05-30 - Tektronix

首款3合1波形產生器亮相

Tektronix宣佈推出首款3合1任意波形產生器AWG4000系列。可攜式訊號產生器提供基本、進階和數位等模式,可以在整個設計團隊內輕鬆共享成果,並能滿足各種訊號產生需求,包括從雷達和無線通訊,到嵌入式系統的設計和研究應用。

- Keysight Technologies

是德與大唐簽署5G技術策略夥伴合作備忘錄

是德科技宣佈與大唐電信集團共同簽署合作備忘錄(MOU),雙方將就5G通信技術的研究與開發進行密切合作。

2016-05-27 - Keysight Technologies

相符性測試軟體支援CAUI-4 100G乙太網路應用

是德科技(Keysight Technologies)宣佈推出功能最齊備的相符性測試應用軟體,可測試100G 4通道連接單元介面(CAUI-4)網路應用的電氣特性。

2016-05-26 - Keysight Technologies

相位陣列波束成形軟體瞄準5G、雷達及電子戰系統

是德科技宣佈推出Keysight W1720EP相位陣列波束成形套件,讓研究人員和系統架構師可輕鬆設計並驗證採用波束成形演算法的5G、衛星、NewSpace、雷達和電子戰(EW)平台,以便減少干擾與功耗,並且擴展實體範圍。

- Rohde & Schwarz

支援LTE-A上行64QAM和CA驗證的一致性測試系統

羅德史瓦茲(R&S)宣佈其TS8980成為第一套支援LTE-Advanced Pro上行64QAM和LTE-Advanced上行載波聚合(CA)驗證的測試系統。

2016-05-24 - Keysight Technologies

支援USB 3.1 Type-C規格的發射器測試軟體

是德科技(Keysight Technologies)日前宣佈推出Keysight U7243B USB 3.1發射器效能驗證與相符性測試軟體,這是功能最完整、支援USB 3.1 Type-C規格的發射器(TX)測試軟體。

2016-05-23 - Keysight Technologies

超低雜訊濾波器擴展電源輸出範圍達500mA

是德科技(Keysight Technologies Inc.)日前宣佈推出適用於Keysight B2961A和B2962A 6位半低雜訊電源的全新大電流、超低雜訊濾波器,可提供500mA的大電流,並維持低至10μVrms和1nVrms/√Hz(在10 KHz頻率下)的雜訊。

2016-05-20 - Keysight Technologies

電子量測論壇聚焦行動智慧與雲端高速

是德科技(Keysight Technologies)宣佈將於6月15日於台北六福皇宮,舉行「是德科技電子量測論壇」,聚焦「創新解決方案,創造聯網新世代」,內容包括目前的熱門話題與全新的無線、數位量測新知以及實機展示等。

2016-05-19 - Tektronix

用手機App進行電流/電壓特性分析

Tektronix宣佈,使用者現在可從App Store取得適用於iPhone和IPad裝置的Keithley IVy應用程式,此應用程式與2600B電源量測裝置(SMU)儀器搭配使用,將能更高效又便捷地的運作;同時,Google Play上亦發布了適用於Android裝置的應用程式更新版本,具備無線儀器連線的支援功能。