在晶片開發過程中,調試就要耗費50%左右的開發時間和精力,這是一個不爭的事實。調試被認為是半導體晶片設計與驗證行業面臨的最棘手挑戰之一。本文將全面分析低功耗設計和驗證面臨的各種複雜調試問題。我們將借助相關示例來說明如何避免或輕鬆解決這些問題。本文還會重點討論一些低功耗設計可避開的常見陷阱;如不避開,這些陷阱可能引起難以在設計後期調試的複雜低功耗問題。