NI晶片功耗和性能測試解決方案

時間2020-08-13

分類 Whitepaper

資料簡介

如今,人們對電子產品的功耗的要求不斷提高,半導體公司正在爭相設計低功耗、高能效的產品。為了在緊迫的市場週期內推出更有競爭力的產品,工程師需要快速量測、分析並正確地處理功耗數據。

傳統桌上型示波器和數位萬用表(DMM)等價格過於昂貴,而且很難根據Pin腳或產品線進行擴展,而低成本數據擷取解決方案往往精度不足,無法檢測到很多像晶片休眠模式狀態下的微小電訊號。面對此一進退兩難的困境,有些企業選擇僅僅對晶片部分功效進行分析,這將導致晶片高功耗、低品質等問題,最終引起市場機會的大量流失。

NI晶片功耗和性能驗證解決方案具有高準確度和高通道數,有助於加快產品上市時間,您可以使用專用儀器和基於配置的軟體來快速設置、量測、記錄和可視化功耗量測數據。

解決方案的優勢:

  • 取得可靠且一致的功耗量測結果,為設計提供準確的回饋,幫助客戶解決問題以及提高競爭力。
  • 體積小巧,具有高可擴展性,可從幾個通道擴展到數百個通道。
  • 獲取針對目標細分市場的洞察,優化功率效率和性能。
  • 快速查看有意義的功耗數據,讓設計公司應用工程部門甚至客戶更早參與進來為系統級驗證提供幫助。
  • 透過完整的功率量測解決方案,最大限度提升設計和驗證團隊的效率.

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