如何在氮化鎵GaN操作狀態下執行動態測試分析？
時間2021-10-12
分類 Whitepaper
資料簡介
功率半導體材料氮化鎵(GaN)支持大電壓和高切換速度，面對高壓、高流的測試要求，要如何有效解決在元件操作(switching)狀態下執行氮化鎵(GaN)動態參數分析的困難? GaN-on-Si的材料缺陷使得用於Si的靜態量測與可靠度評估已不足以代表GaN在真實系統中的動態表現。
動態量測與動態可靠度分析可幫助元件開發者改善元件，可幫助元件使用者正確評估元件的功率損耗及老化速率，因此可以說動態量測與動態可靠度分析是GaN邁向廣泛應用的重要條件！
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如何在氮化鎵GaN操作狀態下執行動態測試分析？
