【PCI Express® 實體層測試的新方法】如何提供對發射器(Tx)連結運作狀況的快速深入解析
時間2022-11-15
分類 Whitepaper
資料簡介
傳統上，發射器 (Tx) 測試需要使用示波器對來自待測裝置 (DUT) 的傳輸訊號進行眼高和眼寬量測，以評估訊號品質。示波器作為驗證和相容性系統的一致指定工具，在開發過程中大量使用，以確定 DUT 是否準備好接受許多高速 I/O (HSIO) 標準的相容性認證。雖然示波器對於開發和除錯而言十分重要，但對其他設備的需求也在不斷成長，以減少示波器收集 Tx 連結運作狀況所需的時間。為此，Tektronix 推出了 TMT4 邊限測試儀。
在本應用摘要中，您將發現全新的 TMT4 邊限測試儀透過六種方式滿足 PCI Express Gen 3 和 Gen 4 裝置測試需求，能夠提供更快速、更簡單和更具成本效益的連結運作評估。
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【PCI Express® 實體層測試的新方法】如何提供對發射器(Tx)連結運作狀況的快速深入解析
