Nicolet RaptIR FTIR顯微鏡在半導體和電子器件失效分析中的應用
時間2022-11-01
分類 Whitepaper
資料簡介
鷹速巡跡，精准入微
在半導體和電子行業中, 失效分析對於調查器件故障的根本原因並由此提高產量起到至關重要的作用。先進的顯微鏡技術，如掃描電鏡、透射電鏡、顯微CT，廣泛地應用於電子器件的失效分析。FTIR顯微鏡可用於分析污染物或異物的化學成分，是用於失效分析的另一種重要工具。 Nicolet RaptIR 是Thermo Fisher Scientific 最新發佈的FTIR顯微鏡，它包含了革命性的光學系統和直觀強大的軟體。RaptIR的光學系統同時配有寬視野和高解析度物鏡: 寬視野光學元件可以快速搜索和定位目標區域，高解析度光學元件可將空間解析度擴展到1μm尺度。OMNIC Paradigm軟體具有簡潔的友好用戶介面, 可為從專家到新手的所有用戶提供更高的靈活性和可用性。 無論多麼複雜的樣品，Nicolet RaptIR FTIR 顯微鏡都能快速提供答案。
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Nicolet RaptIR FTIR顯微鏡在半導體和電子器件失效分析中的應用
