面臨此嚴苛挑戰的著名測試應用包括LCD顯示器製造和晶圓的奈米FET裝置測試。全新的4201-SMU和4211-SMU專為使用長電纜、開關矩陣、Chunk的閘極觸點和其他治具的測試設定而設計,即使在待測裝置本身的電容極低的情況下,此類測試設定(許多低電流量測應用中常見的需求)也會增加SMU輸出端的電容。當測試連接電容過高時,最終的低電流量測結果就可能會變得不穩定。

為了應對這些挑戰,新模組可使用比傳統SMU更長的電纜或更大的連接電容來輸出電壓並量測電流。這將能為研究人員和製造測試工程師省下了原先耗費在疑難排解和重新配置測試設定上的時間和成本。

在最低的支援電流量測範圍內,4201-SMU和4211-SMU可輸出至比現今容量高1,000倍的電容系統並進行量測。例如,若電流位準介於1~100pA之間,則全新的吉時利模組在高達1µF負載電容的情況下仍可保持穩定。相較之下,在量測穩定性下降之前,競爭產品所能承受的最大負載電容僅為1,000pF,足足相差了1,000倍。

使用者可以訂購4201-SMU和4211-SMU,並預先配置4200A-SCS以取得完整的參數分析解決方案,或針對現有設備進行現場升級。升級時,無需將設備送至服務中心即可輕鬆地在現場完成升級,節省數週的停機時間。