DUT

2023-08-01 - Chan-Ching Lin、Shenzhi Yang、Ryan Liang、Chi-Pei Lu、heng-Shu Ho、Chieh Lo、Shao-Yu Hsu、Jim-Chen Chen、Fan Lan、Weiwei Pan、Sa Zhao、Yongjun Zheng、Shou-Zen Chang

在高密度測試陣列中透過大規模的大數據分析,以快速提高邏輯平台的良率

2021-12-08 - 稜研科技(TMYTEK)供稿

最低建置成本 實現雙極化天線陣列測試

5G…

2021-12-06 - Keysight Technologies

是德與Proventia共同開發EV電池測試方案

2021-05-05 - Glen Chenier,EDN專欄作者

換掉所有晶片了還是修不好,問題出在哪?