精密類比設計中的雜訊分析

ADI

研討會介紹
許多應用筆記和文章針對放大器或ADC說明了元件級雜訊分析,但是很少會解釋如何從系統角度計算雜訊預算或分析雜訊。本線上研討會探討精密設計中的雜訊分析基礎知識,將計算與系統級規格聯繫起來,如靈敏度、動態範圍和解析度,並回答一些有關低雜訊設計的重大問題。


作者簡介
Scott Hunt – 精密儀器部門系統應用工程師
Scott Hunt是麻塞諸塞州威明頓市線性和精密技術部門的系統應用工程師,主要從事精密儀器工作。Scott於2011年作為一名產品應用工程師加入ADI公司,負責儀表放大器等高性能整合式精密放大器。他擁有倫斯勒理工學院電氣和電腦工程學士學位。Scott在全球商業出版物撰寫文章,並去世界各地參加國際會議。

技術支援信箱:cic.asia@analog.com


公司介紹
Analog Devices, Inc.(簡稱ADI)將創新、業績和卓越作為企業的文化支柱,並基此成長為該技術領域最持久高速增長的企業之一。ADI公司是業界廣泛認可的資料轉換和 信號處理技術全球領先的供應商,擁有遍佈世界各地的60,000客戶,涵蓋了全部類型的電子設備製造商。作為領先業界40多年的高性能模擬積體電路 (IC)製造商,ADI的產品廣泛用於類比信號和數位信號處理領域。公司總部設在美國麻塞諸塞州諾伍德市,設計和製造基地遍佈全球。ADI公司的股票在紐 約證券交易所上市,並被納入標準普爾500指數(S&P 500 Index)。
如需瞭解更多詳情,請訪問:http://www.analog.com

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