使用 TestMAX Advisor 提高覆蓋率和減少 Pattern 生成數量

Synopsys

研討會介紹

測試點 (Test points) 作為一種可測試性設計技術,能夠提高測試覆蓋率,減少實現故障覆蓋目標所需的 Pattern 數量,但該技術並未得到充分利用。在本次線上研討會上,我們將簡要介紹如何使用 TestMAX Advisor 分析 RTL 和門級 (gate-level) 設計,以確定插入測試點的最有效位置。此外,Sanechips 將對他們的設計流程做一個全面的介紹,同時展示他們插入測試點的成功案例。在本次線上研討會中,您將學習使用 TestMAX 系列工具,透過自動結合新思科技 synthesis 軟體產品的分析與實作,輕鬆佈署測試點,以一步到位的方式,優化 ATPG 和 logic BIST 结果。

參加本次研討會,與會者將可了解:

  • 確保 RTL 或 netlist 與掃描相容,減少測試實作時間和成本
  • 在 RTL 或 netlist 階段儘早診斷 DFT 問題,以提高測試品質
  • 減少每百萬缺陷機會中的不良品數(DPPM),從而降低測試成本

演講專家

Alex Yu/餘建

新思科技 測試經理

Alex是 Synopsys 測試解決方案經理,專注於領先的測試解決方案/產品開發和部署,幫助客戶取得成功,助力方案/應用工程師團隊為客戶提供可靠、可擴展和高效的解決方案。

李嘉良

Sanechips  DFT經理

李嘉良,2017年7月畢業於西安電子科技大學積體電路設計。2015年12月至2016年12月在西安電腦技術學院實習,負責系統驗證工作。畢業後進入 Sanechips 擔任 DFT 工程師至今,並參與了許多 VLSI(超大型積體電路)項目。在此期間,他在 7nm/6nm/5nm 先進節點上引入了新的 DFT 技術,特別是在 TPI (Test Point insert) 流程上,利用 TestMAX Advisor 提高測試覆蓋率,減少 pattern 數量,並部署在 MP 項目中。

周姗姗

新思科技 業務開發經理

周姗姗是 Synopsys 數位設計集團業務部硬體分析與測試組的業務開發經理,其責包括負責監督與亞洲客戶開展的 DFT 技術合作。她曾在著名的半導體公司任職,包括英特爾移動、英飛凌科技和台基半導體(現為美光),負責開發 DFT 架構,用於邏輯和記憶體內置自檢、探針測試、DRAM 測試和矽產量提升。

幸運禮物

當天參加研討會的用戶均有機會獲得由 Synopsys 公司提供的 AirPods
(獎品以實物為准,最終解釋權歸 Synopsys 公司所有。為確保您能收到獲獎資訊,請您及時更新個人資訊!


公司介紹

新思科技(Synopsys, Inc., 納斯達克股票代碼:SNPS)是眾多創新型公司的Silicon to Software™(“晶片到軟體”)合作夥伴,這些公司致力於開發我們日常所依賴的電子產品和軟體應用。作為一家被納入標普500 ( S&P 500 )的公司,新思科技長期以來一直是電子設計自動化(EDA)和半導體IP領域的全球領導者,並提供業界最廣泛的應用程序安全測試工具和服務組合。無論您是創建高級半導體的片上系統 (SoC) 的設計人員,還是編寫需要最高安全性和品質的應用程式的軟體發展人員,新思科技都能夠提供您所需要的解決方案。

如需瞭解更多詳情,請訪問:http://www.synopsys.com

發表評論