MOSFET老化解決方案

Synopsys

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研討會介紹

本次線上研討會將介紹由 Synopsys 和 Keysight 共同提供的 MOSFET 老化解決方案。在介紹過程中涉及到以下主題:

1. 老化模型概念及其開發

2. 老化數據測量與模型參數提取

3.電路仿真中的老化分析

本次線上研討會的解決方案優勢:

1. MOSRA API框架

2. MOSRA對老化分析的全面支持

3. MOSRA自動化參數提取流程

4. 在片老化數據自動測試

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演講專家

申旭光 – 研發主任工程師，Synopsys

申旭光，Synopsys定制設計與製造事業部，器件模型組研發主任工程師。
於2013年加入Synopsys，專注於在電路仿真領域MOS可靠性分析的研發和器件老化的解決方案。他所在的器件模型組所研發的MOS可靠性建模及仿真解決方案已經被全球範圍內諸多處於領先地位的半導體晶圓製造廠商和設計公司所廣泛採用。
旭光畢業於上海同濟大學電氣工程系，碩士學位。在加入新思科技之前，他作為軟件工程師在惠普公司工作了5年。

鄧家媛 – 器件模型應用開發工程師，Keysight

鄧女士於2012年加入安捷倫/是德科技器件模型部門，鄧家媛在器件模型領域擁有超過10年的經驗，並先後在技術支持，研發和市場部門負責器件模型軟件的應用技術支持和開發。
鄧家媛畢業於北京大學微電子學系，並擁有ESIEE-Paris微電子系統碩士學位。

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幸運禮物

當天參加研討會的用戶均有機會獲得由 Synopsys 公司提供的 AirPods – 第三代（1個）。
（獎品以實物為準，最終解釋權歸 Synopsys 公司所有。為確保您能收到獲獎資訊，請您及時更新個人資訊！）

恭喜得獎者：高*海

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公司介紹

新思科技（Synopsys, Inc., 納斯達克股票代碼：SNPS）是眾多創新型公司的Silicon to Software™（“晶片到軟體”）合作夥伴，這些公司致力於開發我們日常所依賴的電子產品和軟體應用。作為一家被納入標普500 （ S&P 500 ）的公司，新思科技長期以來一直是電子設計自動化（EDA）和半導體IP領域的全球領導者，並提供業界最廣泛的應用程序安全測試工具和服務組合。無論您是創建高級半導體的片上系統 (SoC) 的設計人員，還是編寫需要最高安全性和品質的應用程式的軟體發展人員，新思科技都能夠提供您所需要的解決方案。

如需瞭解更多詳情，請訪問：http://www.synopsys.com。